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EMC測(cè)試設(shè)備
EMC測(cè)試設(shè)備
  • C測(cè)試儀 3506-10

    模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量 提高了抗干擾性,在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度 1kHz、1MHz測(cè)量下,低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量
  • C測(cè)試儀 3504-40/50/60

    高速測(cè)量2ms 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測(cè)量值,進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 對(duì)應(yīng)測(cè)試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 3504-40記錄工具,實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤,提高成品率
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